集成电路可靠性验证与测试分析

 

为汽车电子、工业控制、电子电气等领域

提供元器件级别和板卡级测试、筛选、可靠性分析、失效分析、测试方案开发的一站式可靠性质量和高可靠信息系统技术解决方案。

测试标准：IEC 61967、IEC 62132、IEC 62215、GB/T 4377、AEC-Q101、AEC-Q102、 AEC-Q103、AEC-Q104、AEC-Q200 等。

集成电路EMC相关实验

 

辐射发射、传导发射、辐射抗扰度、

传导抗扰度等

 

 

 

电性能相关实验

 

常温测试、高温测试、低温测试、

高温老练等

 

 

综合环境实验

 

环境应力筛选、可靠性增长实验、

可靠性强化等

 

 

集成电路筛选测试内容

（部分项目）

气候环境实验

 

温度冲击试验、太阳辐射、淋雨、

湿热、霉菌试验等

 

 

材料分析类实验

 

机械试验、成分分析、

材料失效分析等

 

 

力学环境实验

 

正弦扫频、正弦定频振动试验、

半正弦冲击试验、随机振动试验等

 

 

可靠性分析与失效分析

 

我们坚持站在客户的角度思考问题，用的互动策略思考模式打破常规。

我们坚信每一个成功项目都是良好合作的成果，我们共同思考和创新，帮助客户寻找接近目标受众佳互动解决方案。