测试设备与产品目录
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近场辐射自动化测试设备
型号:HIIC67
频段:10Hz~10GHz
空间分辨率:0.03mm
X、Y方向重复精度:±0.02mm
α方向重复精度:±0.01°
测量范围:80cm * 40cm
灵敏度:≤ -120dBm
测量一致性:±2dB¥ 0.00立即购买
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10米法半电波暗室
设备产自:FRANKONIA
屏蔽效能: ≥ 80dB ~ 110dB
尺寸:24.08m * 18.08m * 9m
归一化场地衰减:优于±3 . 5 dB
频率范围:10kHz ~ 40GHz
场地电压驻波比: ≤ 5.5 dB¥ 0.00立即购买
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集成电路老化设备
老化温度范围:室温150℃(最高)任意设置
频段:125℃时小于±3℃;
老化电源:输出电压:0~25V
输出电流:0~40.0A
数字信号特性:每块图形驱动监测板提供
64路数字信号,每路数字信号可独立三态输出
模拟信号特性:每块图形驱动检测板有4路独立
可编程的模拟信号,波形(正弦、三角、前沿锯
齿、后沿锯齿、方波)、频率、幅度、偏移量可设置¥ 0.00立即购买
部分测试设备
筑梦蓝色崛起 共建集成电路生态